计算器足球胜平负竞彩网2016年,亚冠小组赛出线规则,nba腾讯新闻,国籍,今日竞彩足球预测,2023女足世界杯

sydz0755@126.com

0755-82702290

EN

嚴(yán)格的質(zhì)量控制體系

我們優(yōu)先為客戶提供高品質(zhì)的電子元件。我們?cè)谙愀酆蜕钲诮⒘藘蓚€(gè)先進(jìn)的質(zhì)量控制中心， 占地1000平方米，配備了60多臺(tái)檢測(cè)設(shè)備和50多名專業(yè)工程師。 我們的QCS管理系統(tǒng)涵蓋從倉儲(chǔ)到電氣測(cè)試的所有檢查流程，確保符合國際標(biāo)準(zhǔn)。我們的使命是絕不讓假冒產(chǎn)品到達(dá)我們的客戶手中。

質(zhì)量檢查框架

一直專注于通過提供高質(zhì)量的電子元件來滿足客戶的要求。

  • 專業(yè)化
  • 可追蹤
  • 保證
  • 可靠性

專業(yè)化

擁有一支專業(yè)團(tuán)隊(duì)，他們精通行業(yè)最佳實(shí)踐、監(jiān)管要求和質(zhì)量管理體系。這是為了確保所有產(chǎn)品和服務(wù)都經(jīng)過徹底的測(cè)試和評(píng)估， 以確定任何潛在的問題或需要改進(jìn)的領(lǐng)域。

可跟蹤的

我們采購流程的各個(gè)方面，從供應(yīng)商評(píng)估到質(zhì)量 控制 到倉儲(chǔ)和運(yùn)輸，可以很容易地跟蹤每個(gè)組件 我們 已經(jīng)獲得。

保證

我們嚴(yán)格的測(cè)試設(shè)備和熟練的工程師保證 我們采購的電子元件符合最高標(biāo)準(zhǔn)并達(dá)到我們的目標(biāo) 目標(biāo)。

可靠性

一致性對(duì)于建立信任至關(guān)重要，而信任又植根于 可靠性 至關(guān)重要的是，我們團(tuán)隊(duì)的每一位成員都要始終如一地做到最好 每個(gè)員工的表現(xiàn)都會(huì)影響我們的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。

智能質(zhì)檢流程


實(shí)施嚴(yán)格的四級(jí)質(zhì)量檢查流程，以確保所有電子元件都符合最高的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。 第一層涉及對(duì)部件進(jìn)行目視檢查，以檢查是否存在任何物理缺陷或異常。這個(gè)第二層包括測(cè)試組件， 以確保它們滿足要求規(guī)格以及性能標(biāo)準(zhǔn)。第三層包括進(jìn)行綜合可靠性測(cè)驗(yàn)以確保組件能夠在不同的 條件和環(huán)境下運(yùn)行。此外，我們還提供了可選的第四層，其中我們與第三方檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)進(jìn) 行進(jìn)一步測(cè)試。這種多層方法允許我們提供可靠且性能良好的高質(zhì)量電子元件最佳在一系列應(yīng)用中。

測(cè)試服務(wù)

為了更好地服務(wù)我們的客戶并滿足他們的獨(dú)特要求，為我們的員工提供持續(xù)的培訓(xùn)， 并經(jīng)常更新我們的設(shè)備。我們采取 以使用一流的測(cè)試設(shè)備來確保我們的電子元件為榮 滿足 最高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。

10 個(gè)建議:

  • X射線無損探傷

    進(jìn)行實(shí)時(shí)無損分析，以檢查 用于檢測(cè)芯片引線框、晶圓尺寸、金線綁定的組件 簡圖 ESD的孔洞和損壞。

  • 靜態(tài)參數(shù)測(cè)試

    根據(jù)數(shù)據(jù)表設(shè)置相關(guān)參數(shù)，以確保實(shí)際 的值 無源元件在可接受的誤差范圍內(nèi)。

  • 阻抗分析測(cè)試

    阻抗分析測(cè)試

  • 阻抗分析測(cè)試

    為了驗(yàn)證表面阻抗系數(shù)、接地電阻、 物體的靜電電勢(shì)的瞬時(shí)值和峰值，例如 靜電保護(hù)材料、器件封裝和絕緣材料。

  • 釬焊性測(cè)試

    檢查芯片引腳的鍍錫能力是否符合J-STD-002B標(biāo)準(zhǔn)。

  • 高溫老化

    提供標(biāo)準(zhǔn)化和專業(yè)的烘焙和真空包裝，以避免 潮濕 損壞芯片，控制回流焊的溫度以保持 芯片的可用性和可靠性

  • XRF元素測(cè)量與分析

    進(jìn)行XRF分析，以確保部件的材料符合 RoHS 條例。

  • 解封裝

    提供去蓋服務(wù)以完全移除模具以檢查屏幕 印刷，標(biāo)識(shí)信息在晶圓上，確保組件的真實(shí)性。

  • SAM故障分析

    超聲波掃描以識(shí)別電子元件的內(nèi)部材料，如 像 分層、裂紋、空隙、硅片傾斜和外來污染物。

  • MCU編程測(cè)試

    進(jìn)行編程測(cè)試，以確保部件未編程 在 他們最初的工廠配置

所獲證書

我們對(duì)質(zhì)量的關(guān)注得到了第三方認(rèn)證和會(huì)員資格的支持。